LUM sponsert Weltkongress zur Partikeltechnologie (WCPT 10)

Erstellt von OM AnalytikLUM
LUM WCPT 2026 Sponsor
LUM ist Sponsor des WCPT 10 2026, dem Weltkongress zur Partikeltechnologie in Japan (Bild: LUM)

Vom 11.-15. Mai 2026 fand im japanischen Osaka der 10. Weltkongress zur Partikeltechnologie WCPT (World Congress on Particle Technology) statt. Der Messtechnik-Spezialist LUM GmbH hat dieses Event aktiv als Sponsor unterstützt.

Die LUM GmbH ist spezialisiert auf Partikelcharakterisierung, Stabilitätsbewertung von Suspensionen und Emulsionen und Bestimmung von Haftfestigkeiten und trat beim WCPT 2026 als Sponsor auf. In einer Special Session, organisiert von Prof. Dr. Dr. Lerche, Gründer und Managing Director der LUM GmbH, feierte die Community 100 Jahre Analytische (Ultra-) Zentrifugation. Den Auftakt bildete sein Vortrag „From the development of the Svedberg Analytical Ultracentrifuge to current numerous applications of AC and AUC sedimentation analysis”. Zu den spannenden Themen dieser Session zählten unter anderem: “Characterization of nanoparticles – Global analysis of sedimentation data from multiwavelength analytical ultracentrifugation and analytical centrifugation” (Spruck et al.), “Surface Modification of Silica Particles and Its Influence on Particle–Liquid Interactions” (Takai-Yamashita), “A Method for Determining the Hamaker Constant of Particulate Materials Using Sedimentation Technique” (Takeda et al.), “Analytical-centrifugation-informed dispersion formulation and thin film fabrication of gas-phase synthesized graphene” (Segets), welche die Leistungsfähigkeit und Vielseitigkeit der analytischen Zentrifuge LUMiSizer für aktuelle und zukünftige Herausforderungen unter Beweis stellen.

LUM mit Vorträgen auf dem WCPT

Mit den weiteren wissenschaftlichen Beiträgen “Single Particle Light Scattering Analysis: A Simple, High-Resolution Approach to Nano- and Microparticle Counting and Sizing” und “Reliably Counting the Unseen: Establishing a First-of-its-Kind Nanoscale Number Concentration Standard” (Hood et al.) teilte LUM eigene Erkenntnisse auf dem Gebiet der Einzelpartikelcharakterisierung mit dem forschenden Fachpublikum. Eher an industrielle Anwender richtete sich der Beitrag von Lerche “In-Line Characterizing Concentrated Liquid dispersions by means of Spectral Reflectance Measurement”. Die Bedeutung der LUM-Technologien für die wissenschaftlichen und industriellen Problemlösungen in den Bereichen Partikelgrößenanalytik und industrielle Trenntechnik unterstrichen die Vorträge der renommierten Referenten Babick und Gleiss zu den Themen „Comparability of sedimentation-based particle size analysis: Impact of measurement technique and operational parameters“ und „Enhancing Solid Bowl Centrifuge Scale-up Through Analytical Centrifugation and Numerical Modeling“.

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