Helmut Fischer auf ZVO Oberflächentagen 2026: Neue XRF-Gerätegeneration

Helmut Fischer präsentiert auf den ZVO Oberflächentagen 2026 die nächste XRF-Gerätegeneration mit KI-gestützter Software: Fischerscope Xdal zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse.
Auf den ZVO-Oberflächentagen 2026 in Karlsruhe zeigt sich Helmut Fischer Gruppe auf dem Stand 44 mit der Produktneuheit Fischerscope Xdal. Das High-End-Analysegerät zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse misst mittels Röntgenfluoreszenz (XRF) und beeindruckt nicht nur mit modernem Facelift, sondern insbesondere schnelleren und smarteren Messabläufen. In Kombination mit der KI-gestützten XRF-Software Fisiq X setzt Fischer mit der neuen Gerätegeneration neue Maßstäbe für eine noch effizientere Qualitätskontrolle.
High-End-Analysegerät zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse
Vorgestellt wird das Fischerscope Xdal, welches speziell für hochpräzise Messungen dünner und sehr dünner Beschichtungen entwickelt wurde. Dank optimierter Messgeometrie, deutlich beschleunigter Probenpositionierung sowie der neuen benutzerfreundlichen Software Fisiq X, bietet das Xdal ein Höchstmaß an Effizienz und Messsicherheit. Insbesondere für Anwendungen in der Galvano- und Beschichtungsindustrie sowie der Elektronikbranche eröffnet das Xdal neue Möglichkeiten für eine zuverlässige Qualitätskontrolle. Neben der Präsentation des neuen Fischerscope Xdal erwartet die Besucher der ZVO-Oberflächentage 2026 auch ein fachliches Vortragsprogramm. Im Rahmen des Vortrags „XRF – Wahl des richtigen Anodenmaterials“ zeigt Fischer Expertin Johanna Malina Zeiss, welchen Einfluss die Wahl des Anodenmaterials auf die Leistungsfähigkeit von Röntgenfluoreszenzmessungen hat und welche Aspekte bei der Auswahl berücksichtigt werden sollten.
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Kontaktdaten und Informationen zu den hier vorgestellten Unternehmen und Institutionen sind in unserem interaktiven Oberflächentechnik-Branchenverzeichnis zu finden.