Analytik
Zur Sicherung der Qualität oberflächentechnisch behandelter Werkstücke werden modernste Analysemethoden angewendet. So können etwa Defekte an einer Beschichtung erkannt oder die Schichtdicke gemessen werden, im Idealfall sogar zerstörungsfrei.
Polytec: Flächenhafte Schichtanalyse mit Hyperspectral Imaging
Polytec erweitert sein Portfolio für die optische Schichtcharakterisierung um das Hyperspectral-Vision-System VEpioneer von PVA Vision. Das kompakte…
DataPhysics dpiMAX-Software für weitere Messgeräte verfügbar
DataPhysics Instruments erweitert den Einsatz seiner Gerätesoftware dpiMAX. Neben den Kontaktwinkelmessgeräten der OCA-Serie lassen sich nun weitere…
Micro-Epsilon: Konfokaler 3D-Sensor misst anspruchsvolle Oberflächen
Der neue konfokal-chromatische Liniensensor ConfocalLine CLI8500 von Micro-Epsilon erfasst feine Strukturen auf matten, hochreflektierenden und…
X-Rite Pantone vernetzt Farbmessung von Oberflächen
Mit Spectura bringt X-Rite Pantone eine neue Generation tragbarer Spektralphotometer zur Farbkontrolle von Oberflächen auf den Markt. Die Plattform…
Fraunhofer Vision: Praxis-Seminar zur Oberflächeninspektion mit Praktikum
Der Fraunhofer-Geschäftsbereich Vision veranstaltet am 2. und 3. Dezember 2026 beim Fraunhofer IOSB in Karlsruhe das Seminar mit Praktikum »Inspektion…
Adphos ThermoLab (aTL): Tests, Miete und Nutzung im eigenen Labor
Das Adphos ThermoLab (aTL) kombiniert die synchrone Messung von Masse und Temperatur, um Trocknung, Erwärmung und andere thermische Prozesse während…
Helmut Fischer auf der Electronica 2026: Messlösungen für die Elektronikindustrie
Auf der Messe Electronica 2026 in München präsentiert die Helmut Fischer Gruppe innovative Messlösungen für die Elektronikindustrie -…
Igos-Institut auf den ZVO Oberflächentagen 2026: Prüfdienstleistungen
Das Igos Institut für Galvano- und Oberflächentechnik präsentiert sich am Stand 21 der ZVO-Oberflächentage 2026. Als Prüfdienstleister bietet es…
LUM zeigt Messtechnik auf dem Sepawa Congress 2026
LUM präsentiert auf dem Sepawa Congress 2026 in Berlin Lösungen zur Partikelcharakterisierung, Stabilitätsbewertung und Bestimmung von…
Bruker Alicona auf der AMB: Optisches Koordinatenmesssystem
Bruker Alicona präsentiert auf der AMB 2026 erstmals in Europa das optische Koordinatenmesssystem μCMM NEO. Es verbindet die Messung von Dimension,…
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